Серия охлаждаемых спектрометров специально разработана для измерения в течение длительного времени.
Подробности
Диапазон длин волн—500-1100 нм
- 180-1100 нм
- 500-1100 нм
Разрешение—0,4-10 нм
- 0,4-10 нм
Тип сенсора—TEC с БИК-усилением
- TEC с БИК-усилением
В корзину
Быстрый заказ
Характеристики
Диапазон длин волн
—
180-1100 нм (max)
Оптическое разрешение
—
От 0,2 нм FWHM до 20,0 нм FWHM
Динамический диапазон
—
4700:1, 4000:1
Темновой шум
—
20-25
Время интегрирования
—
5 мс-65 с в зависимости от сенсора
Размер щели
—
50, 100, 200, 300 мкм
Решетки
—
15 вариантов решеток; спектральный диапазон от УФ до БИК
Пусконаладка и обучение персонала
Доступен лизинг, кредит, рассрочка
Подберем оборудование под ваши задачи
Гарантийное и постгарантийное обслуживание без привлечения производителя
Бесплатная доставка
Официальный дистрибьютор OtO Photonics Inc. в РФ и странах Таможенного Союза АО «ЛЛС» предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции OtO Photonics Inc., полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
Описание
Спектрометр серии EagleEyeTM (EE) основан на TEC и высокопроизводительном 32-битном RISC-контроллере. Устройство специально разработано для длительных измерений. Термоэлектрический охладитель (TEC) позволяет уменьшить уровень темнового тока.
Ключевые особенности:
- Высокая термо-, влаго-, вибро- и удароустойчивость
- Высокий SNR (=500) и чрезвычайно низкий тепловой шум
- Собственные алгоритмы калибровки рассеянного света
Для выбора необходимой конфигурации на одном из типов сенсора (из таблицы ниже),ознакомьтесь с сопроводительным документом и укажите требуемые параметры в комментариях к заказу.АО «ЛЛС» является авторизованным дистрибьютором и поставляет весь спектр продукции Oto Photonics на территории РФ и стран СНГ, предлагая наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку. Получить дополнительную информацию вы можете, обратившись в нашу компанию.
Модель EE2111 EE2063 Тип сенсора TEC с БИК-усилением TEC с УФ-усилением Диапазон длин волн 500~1100 нм 180~1100 нм
Разрешение 0,4 нм ~ 10 нм 0,2 нм ~ 10 нм
Документы
EE_series_EN_206
810,5 кб