Камера линейного сканирования коротковолнового инфракрасного диапазона, 900~1700нм
В коротковолновой инфракрасной (SWIR) линейной камере SL512 используется датчик InGaAs с превосходными характеристиками, который имеет чрезвычайно высокую чувствительность в диапазоне 0,9–1,7 мкм.
Встроенный в камеру алгоритм обработки изображения и низкий темновой ток обеспечивают высококачественные изображения, низкий уровень шума при считывании, экстремальный динамический диапазон, низкое энергопотребление, стабильную работу, компактную структуру и простую системную интеграцию.
Камера может широко использоваться в полупроводниковой промышленности, сортировке материалов, промышленном контроле, машинном зрении и других областях применения.
Ключевые особенности:
- Диапазон длин волн: 900 ~ 1700 нм
- Детектор: линейный массив InGaAs с разрешением 512
- Расстояние между изображениями: 25 мкм
- Квантовая эффективность: 70% при 1,0~1,6 мкм
- Высокая скорость, максимальная частота линии может достигать 19,5 кГц
- Высокая чувствительность, низкий темновой ток, широкий динамический диапазон
АО «ЛЛС» предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции и полную техническую поддержку.
Детектор
|
InGaAs Focal plane |
Спектральная чувствительность
|
900-1700 нм |
Интерфейс камеры
|
USB/CameraLink |
Пиксели
|
512 |
Расстояние изображения
|
25 мкм |
Динамический диапазон
|
Низкий коэффициент усиления: 70 дБ |
Шум
|
60e |
Линейная частота
|
19,5 КГц |
Время экспозиции
|
≥10с |
АЦП
|
14 бит |
Встроенная система обработки изображений
|
Регулировка усиления, неравномерная коррекция (смещение и усиление), замена сбойных пикселей, улучшение изображения (регулируется) |
Оптический интерфейс
|
С |
Интерфейс управления
|
UART/USB (2.0) |
Цифровой зум
|
USB/CameraLink |
Внешний триггер
|
внутренний/ внешний |
Входное питание
|
DC 12В ± 3В |
Рассеивание мощности
|
≤3,5 Вт |
Диапазон рабочих температур
|
-20℃~+50℃ |
Диапазон температур хранения
|
-30℃~+60℃ |
Масса
|
≤225 г |
Габариты
|
56×58×59 мм |
- Пищевая и сельскохозяйственная продукция: проверка повреждений продуктов, проверка качества, идентификация материалов и т. д.
- Полупроводники: проверка прототипа кремниевой пластины, проверка EL/PL солнечных элементов и т. д.
- Оптическая когерентная томография (ОКТ)
- Гиперспектральная визуализация:
- Анализ состава, классификация отходов, измерение влажности