Дистрибьютор LBTEK в РФ и странах Таможенного Союза АО «ЛЛС» предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции LBTEK, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
Полосовые оптические фильтры LBTEK предназначены для селективного пропускания излучения в узком спектральном диапазоне вблизи заданной центральной длины волны и эффективного подавления излучения за его пределами. В качестве подложки используются УФ-плавленый кварц (UVFS) и оптическое стекло BF33. Фильтры изготавливаются с применением технологии ионно-лучевого нанесения твёрдых покрытий и обеспечивают высокое пропускание в рабочей полосе при высокой оптической плотности блокировки вне неё. Доступны варианты с центральными длинами волн в диапазоне 355–1550 нм и различной шириной полосы пропускания (FWHM). Фильтры выпускаются диаметром Ø12,5 и Ø25 мм и устанавливаются в механические оправы для удобной интеграции в оптические системы.
Ключевые особенности
- Узкополосное селективное пропускание оптического излучения.
- Центральные длины волн от 355 до 1550 нм.
- Различные варианты ширины полосы пропускания (FWHM).
- Высокое пропускание в рабочей спектральной полосе.
- Оптическая плотность блокировки вне полосы ODabs >5.
- Подложки из UVFS и BF33.
- Диаметры Ø12,5 и Ø25 мм.
- Поставка в механической оправе.
- Рабочая температура от −40 до +90 °C.
- Подходят для работы от УФ- до ближнего ИК-диапазона.
|
Тип
|
Полосовой оптический фильтр |
|
Материал подложки
|
UVFS / BF33 |
|
Центральная длина волны
|
355–1550 нм |
|
Диаметр
|
Ø12,5; Ø25 мм |
|
Толщина
|
3,5 мм |
|
Ширина полосы пропускания (FWHM)
|
Зависит от исполнения |
|
Пропускание в рабочей полосе
|
>85% / >90%, в зависимости от исполнения |
|
Оптическая плотность блокировки
|
ODabs >5 |
|
Плоскостность поверхности при 633 нм
|
≤λ/4 (RMS) |
|
Качество поверхности (Scratch/Dig)
|
60/40 |
|
Рабочая температура
|
−40…+90 °C |
|
Исполнение
|
В механической оправе |
- Выделение заданного спектрального диапазона
- Подавление нежелательного фонового излучения
- Выделение лазерных линий
- Флуоресцентная визуализация
- Спектральный анализ
- Лазерные измерительные системы
- Оптический контроль и инспекция
- Лабораторные и исследовательские установки
Нужна консультация?
Бесплатная консультация инженера