USB 3.0 широкоформатная камера высокого разрешения с BeamGage
Подробности
Характеристики
Рабочий спектральный диапазон
—
340 - 1100 нм
Размер измеряемого пучка
—
45 мкм - 23 мм
Расстояние между пикселями
—
4.5 х 4.5 мкм
Разрешение
—
5120 х 5120 пикселей
Динамический диапазон
—
44.6 дБ
Линейность
—
±1%
Точность измерения ширины пучка
—
±2%
Частота кадров в 10битном режиме
—
4.5 кадра в секунду
Продолжительность воздействия
—
10 мкс - 400 мс
Минимальный измеряемый сигнал
—
0.25 нВт/см^2 на 633 нм
Все характеристики
Пусконаладка и обучение персонала
Доступен лизинг, кредит, рассрочка
Подберем оборудование под ваши задачи
Гарантийное и постгарантийное обслуживание без привлечения производителя
Бесплатная доставка
Профилометр SP504S с широкой активной областью рассчитан на рабочий спектральный диапазон от 340 до 1100 нм для измерения параметров пучков лазерного излучения размера 45 мкм - 23 мм
Ключевые особенности:
- Высокое разрешение
- Динамический диапазон 44.6 дБ
- GigE подключение к ПК
АО «ЛЛС» является дистрибьютором компании Ophir на территории Российской Федерации и стран Таможенного Союза, и предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
Документы
SP504S
592,4 кб
|
Рабочий спектральный диапазон
|
340 - 1100 нм |
|
Размер измеряемого пучка
|
45 мкм - 23 мм |
|
Расстояние между пикселями
|
4.5 х 4.5 мкм |
|
Разрешение
|
5120 х 5120 пикселей |
|
Динамический диапазон
|
44.6 дБ |
|
Линейность
|
±1% |
|
Точность измерения ширины пучка
|
±2% |
|
Частота кадров в 10битном режиме
|
4.5 кадра в секунду |
|
Продолжительность воздействия
|
10 мкс - 400 мс |
|
Минимальный измеряемый сигнал
|
0.25 нВт/см^2 на 633 нм |
|
Порог повреждения
|
50 Вт/см^2 / 1 Дж/см^2 при установке всех фильтров для длины импульсов <100 нс |
|
Габариты
|
68 мм х 68 мм х 62.6 мм |
|
Интерфейс ПК
|
GigE |