№:
RIP-200
Характеристики
Точность измерения показателя преломления
—
±0.0001
Пространственное разрешение
—
лучше 500 нм
Длина волны измерения
—
632,8 нм (возможна кастомизация)
Диаметр анализируемого волокна
—
60 мкм - 800 мкм
Материал волокна
—
Кварц, пластик и другие прозрачные материалы
Типы анализируемых волокон
—
Одно/многомодовые, с большой площадью модового поля, редкоземельно-легированные, с двойной оболочкой, микроструктурированные, с сохранением поляризации и др.
Погрешность измерения соосности
—
±200 нм
Погрешность измерения некруглости оболочки
—
≤0.5%
Погрешность измерения некруглости сердцевины
—
≤3%
Время измерения
—
≤3 мин (точное измерение по 360°)
Все характеристики
Пусконаладка и обучение персонала
Доступен лизинг, кредит, рассрочка
Подберем оборудование под ваши задачи
Гарантийное и постгарантийное обслуживание без привлечения производителя
Бесплатная доставка
Анализатор показателя преломления оптического волокна RIP-200 объединяет голографическую микроскопическую томографию и усовершенствованный метод рефракционного ближнего поля. Он измеряет распределение показателя преломления различных типов волокон, формирует двумерное распределение в поперечном сечении и трёхмерное распределение вдоль оси волокна для расчёта NA, а также измеряет геометрические параметры волокна.
2D-реконструкция сечения торца волокна
Ключевые особенности
- Высокая точность измерения показателя преломления: ±0.0001
- Пространственное разрешение: 500 нм
- Измерение геометрических параметров: соосность, некруглость оболочки и сердцевины
- Полностью автоматизированный и неразрушающий метод измерения
- Функция онлайн-мониторинга и компенсации температуры иммерсионной жидкости
- Возможность анализа различных типов волокон, включая микроструктурированные, активные и с сохранением поляризации
Emissence – официальная торговая марка АО «ЛЛС», под которой компания представляет на рынке системы фотоники, контрольно-измерительное и лазерное оборудование.
Документы
|
Точность измерения показателя преломления
|
±0.0001 |
|
Пространственное разрешение
|
лучше 500 нм |
|
Длина волны измерения
|
632,8 нм (возможна кастомизация) |
|
Диаметр анализируемого волокна
|
60 мкм - 800 мкм |
|
Материал волокна
|
Кварц, пластик и другие прозрачные материалы |
|
Типы анализируемых волокон
|
Одно/многомодовые, с большой площадью модового поля, редкоземельно-легированные, с двойной оболочкой, микроструктурированные, с сохранением поляризации и др. |
|
Погрешность измерения соосности
|
±200 нм |
|
Погрешность измерения некруглости оболочки
|
≤0.5% |
|
Погрешность измерения некруглости сердцевины
|
≤3% |
|
Время измерения
|
≤3 мин (точное измерение по 360°) |
|
Метод измерения
|
Полностью автоматизированный, неразрушающий; голографическая микроскопическая томография (боковое измерение) + усовершенствованный метод рефракционного ближнего поля (торцевое измерение) |
|
Функция температурного мониторинга
|
Мониторинг температуры согласующей жидкости в реальном времени с температурной компенсацией её показателя преломления |
- Анализ микроструктурированных оптических волокон
- Исследование волоконных объединителей пучка
- Контроль высокомощных активных оптических волокон
- Изучение процессов подготовки волокна, изготовления и сварки волокон
Рекомендуем
Нужна консультация?
Бесплатная консультация инженера
Задать вопрос