Инфракрасный прибор наблюдения, предназначенный для визуализации в спектральном диапазоне 350…2000 нм
- 350 - 1700
- 350-1300
- 350-2000
- 1X
- 2X
- 40°
- F1,4/26 мм
Abris-М - инфракрасный прибор наблюдения, предназначенный для визуализации инфракрасного излучения испускаемого инфракрасными источниками типа ИК-излучающие диоды, лазерные диоды, твердотельные лазеры и др. в спектральном диапазоне 350-2000 нм.
Прибор основан на электронно-оптическом преобразователе (ЭОП) с электростатической фокусировкой и фотокатодом типа S-1+ с продленной инфракрасной чувствительностью.
Удобная форма рукоятки и компактные размеры делают работу с прибором очень удобным. Малый вес позволяет использовать визуализатор в течении продолжительного времени без усталости рук.
Стандартный комплект поставки: ИК прибор, ИК светофильтр, батарея, ручка, сумка.
Дополнительные аксессуары (не входят в комплект поставки):
1. Шлем-маска
2. Инфракрасный осветитель (940nm)
3. Нейтральный светофильтр
4. Адаптер к CCD камере
5. Адаптер к микроскопу
6. Диафрагма
8. Видео адаптер VA-1
Ключевые особенности:
- Фотокатод S-1+
- Широкий диапазон чувствительности ИК излучения
- Компактные размеры
- Небольшой вес
- Несколько вариантов конфигурации: 350-1300 нм, 350-1700 нм и 350-2000 нм
|
Спектральный диапазон чувствительности
|
350 - 1300 нм; 350 - 1700 нм; 350 - 2000 нм |
|
Фотокатод
|
S -1+, 18 мм |
|
Неоднородность люминесценции экрана
|
<20% |
|
Неоднородность чувствительности
|
<15% |
|
Дисторсия
|
<18% |
|
Разрешение (центр)
|
60 штр/мм |
|
Поле зрения
|
40 градусов (версия 1); 20 градусов (версия 2) |
|
Увеличение
|
1Х (версия 1); 2Х (версия 2) |
|
Объектив
|
F 1.4/26мм (версия 1); F 1.8/50мм (версия 2) |
|
Диапазон фокусировки
|
0.2м…беск. (версия 1); 0.25м…беск. (версия 2) |
|
Батарея
|
1.5V, " AAA " размер |
|
Срок службы батареи (непрерывно)
|
35 часов |
|
Входное внешнее напряжение
|
2… 3.5В |
|
Вес
|
0.38кг (версия 1); 0.42кг (версия 2) |
|
Размеры
|
140x78x52 мм (версия 1); 155x78x50 мм (версия 2) |
|
Рабочий диапазон температур
|
-10C … +40°С |
Применение
- Юстировка лазеров и безопасность
- Контроль качества полупроводников
- Криминалистика и художественная реставрация
- Термальная визуализация
- Обработка фото
Нужна консультация?
Бесплатная консультация инженера