Станция WIT-220 предназначена для тестирования фотонных интегральных схем. Позволяет проводить высокоточное тестирование оптических/электрических свойств подложек. Гарантирует стабильный собственный сигнал, учитывает электрические шумы системы и сверхточно позиционирует исследуемый образец в пространстве. Обладает системой высокоэффективной изоляции от вибраций и использует собственные алгоритмы программного обеспечения для обработки изображений. Это позволяет выполнять тестирование с малым диаметром пучка оптического излучения и слабой интенсивностью.
Система способна измерять микросигналы в диапазонах пикоампер и наноампер. Благодаря этому, она может использоваться для проверки электрических параметров микросхем.
Более того, станция может заранее выявлять и удалять некачественные чипы на уровне подложки, препятствуя их попаданию в последующие этапы производства. Это способствует снижению общих затрат на упаковку и тестирование, а также повышает эффективность производства.
Ключевые особенности:
- Автоматическая калибровка
- Автоматический захват зондовых плат
- Размер ФИС 2 - 12 дюймов
- Диапазон температур -20...+125 ℃ (более широкий диапазон по запросу)
- Индивидуальные функции, такие как автоматическая загрузка и разгрузка, а также автоматический контроль дефектов, являются дополнительными
- Технологии полупроводников: высокоточное тестирование оптических/электрических свойств подложек, анализ микросигналов, обработка изображений.
- Электроника: измерение микросигналов, проверка электрических параметров микросхем.
- Производство полупроводников: предварительное выявление и удаление дефектных чипов на уровне подложки, оптимизация процесса производства и снижение затрат.