- Обучающий атомно-силовой микроскоп, метрическая система
- Обучающий атомно-силовой микроскоп, неметрическая система
Прямой поставщик Thorlabs в РФ и странах Таможенного Союза АО «ЛЛС» предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции Thorlabs в 2025 году, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
Учебный атомно-силовой микроскоп (АСМ) от Thorlabs включает в себя все компоненты, необходимые студентам для создания базового атомно-силового микроскопа в лаборатории. Этот обучающий набор позволяет учащимся работать и юстировать установку, выполняя эксперименты. Несмотря на то что система не является полноценным исследовательским инструментом, она может достичь достаточного разрешения, чтобы продемонстрировать физические свойства и методы, используемые в АСМ. Данный АСМ способен отображать изображения в режиме постоянной высоты, постоянной силы и поперечной силы, а также записывать кривые силы-расстояния.
В дополнение к компонентам микроскопа образовательный набор включает в себя:
- интуитивно понятный программный пакет EDU-AFM для управления микроскопом через ПК под управлением операционной системы Windows®,
- калибровочный образец микроструктуры
- 10 АСМ зондов
- Образцы CD, DVD и Blu-Ray дисков без дополнительной платы
- Обширное руководство с инструкциями по сборке АСМ, теорией и практикой для студентов
Внимание! АСМ должен быть установлен на оптическом столе или плите, которые не входят в этот набор.
АСМ-измерения используют зонд- кантилевер, который представляет собой нанометровый наконечник для сканирования структуры поверхности образцов. Лазерное излучение генерируется настольным источником 635 нм. Патч-кабель подает лазерный луч в коллиматор, состоящий из линзы в корпусе с регулируемым зумом. Этот коллиматор установлен на 3-осевой кинематической опоре, так что сфокусированное лазерное пятно может быть центрировано на поверхности кантилевера. Свет, отраженный от кантилевера, попадает в узел крепления детектора, где он снова фокусируется на поверхности четырехсегментного фотодиода. Измерение напряжения с фотодиода обеспечивает измерение отклонения кантилевера, которое можно использовать либо непосредственно для создания изображения, либо в контуре обратной связи для контроля высоты.
В EDU-AFM1 (/ M) зонд остается неподвижным, в то время как образец перемещается под наконечник зонда с помощью 3-осевого позиционера MAX311D (/ M) с обратной связью. Зонд удерживается в специальном креплении, закрепленном на платформе AMA009 (/ M), которая подключается к неподвижной стороне MAX311D (/ M). Пьезо-контроллеры K-Cube KPZ101 используются для управления каждой осью позиционера.
Ключевые особенности:
- Позволяет собрать атомно-силовой микроскоп
- Вы узнайте об основных силах между атомами на конце зонда и поверхности образца
- Вы узнайте о прецизионном управлении перемещением с нанометровым разрешением и гистерезисе с помощью пьезоэлектрических приводов
- Формирует понимание принципов, лежащих в основе различных методов сканирования, таких как постоянная высота и режим постоянной силы
- В комплект поставки входят CD, DVD и Blu-Ray с примерами, а также микроструктура для калибровки
Состав набора:
| Внешний вид | Парт номер | Описание | Количество |
| Лазер, Волокно, Крепление | |||
|
S1FC635 |
Волоконный лазер, 635 нм, 2.5 мВт |
1 |
|
P1-630A-FC-1 |
Одномодовое волокно | 1 |
|
F280FC-B |
Волоконный коллиматор | 1 |
|
KS1T | Кинематическое крепление, 3 регулятора | 1 |
|
SM1L05 | Трубка для объектива SM1, длина 1/2 " | 1 |
|
SM1NR05 | Регулируемая трубка для оптики 1/2 " | 1 |
|
AD11F | Монтажный адаптер для коллиматора с резьбой SM1 | 1 |
|
LA1213-A |
Плоско-выпуклая линза Ø1 / 2 ", f = 50,0 мм | 1 |
| Детектор, Контроллер, Крепление | |||
|
PDQ80A | Четырехсегментный фотодиод | 1 |
|
KPA101 | Автоматический выравниватель с цифровым сигнальным процессором (DSP) | 1 |
|
K6XS | 6-осевое кинематическое крепление | 1 |
|
SM05CP2 | Крышка с резьбой SM05 | 1 |
|
SM1A6 | Адаптер с SM1 на SM05 | 1 |
|
SM05L10 | Трубка объектива SM05, длина 1 " | 1 |
|
SM05T2 |
Соединитель трубки объектива SM05 | 1 |
|
SM05L05 | Трубка объектива SM05, длина 1/2 " | 1 |
|
LA1422-A | Плоско-выпуклая линза Ø1 ", f = 40,0 мм | 1 |
|
DG05-1500 | Светорассеивающая пластина Ø1/2 " | 2 |
|
SM1L05 | Трубка для объектива SM1, длина 1/2 " | 1 |
|
SM1V05 | SM1 Регулируемая трубка объектива | 1 |
|
SM1L03 | Трубка объектива SM1, длина 0,3 " | 1 |
|
SM05L03 | Трубка объектива SM05 для крепления светорассеивающей пластины | 1 |
| Демпфирующие опоры и переходная пластина | |||
|
DP8A (DP8A/M) |
Опора с демпфированием Ø1.5" |
1 |
| Монтажный зажим, 2,5 "x 2,5" (64 мм x 64 мм) | 1 | ||
| Переходная пластина | 1 | ||
|
PSHA |
Хомут для фиксации и регулировки высоты крепления, Ø1,5 " | 1 |
| Образец и держатель катилевера | |||
|
MAX311D |
3-осевой позиционер NanoMax, дифференциальные приводы, пьезоактуаторы с обратной связью | 1 |
|
KPZ101 | Пьезо Контроллер | 3 |
|
KSG101 | Контроллер тензодатчика | 2 |
|
KCH601 | USB хаб для контроллеров | 1 |
|
HWM003 | Держатель образцов | 1 |
|
AMA009 (AMA009/M) |
Монтажный кронштейн | 1 |
| Монтажный блок | 1 | ||
|
KB1X1 | Магнитный держатель | 1 |
| Держатель зонда | |||
| Аксессуары | |||
| Пинцет | 1 | ||
| Образец калибровки: BudgetSensors HS-100MG | 1 | ||
| Катилевер с алюминиевым покрытием (10 шт) | 1 | ||
|
CA2824 | SMA коаксиальный кабель, разъем SMA и разъем BNC (male) | 1 |
| Цифровой микроскоп | 1 | ||
| Экран | 1 | ||
|
TRP1.17 (TRP29/M) |
Стержень с основанием, Ø0.47" |
1 |
|
MSC2 |
Вилочный зажим для стержней Ø0.47" |
1 |
|
AM16C | Блок для крепления элементов на стержнях под углом 16° | 1 |
| Карта памяти National Instruments 6002 USB DAQ | 1 | ||
| Коннектор BNC к DAQ | 3 | ||
|
CS1 | Cтяжки кабеля, 15 шт. | 1 |
| Кабельный канал | 1 | ||
|
CL6 | Зажим | 4 |
| CD образец | 1 | ||
| DVD образец | 1 | ||
| Blu-Ray образец | 1 | ||
| Линейка | 1 | ||
| USB-накопитель с программным пакетом EDU-AFM | 1 | ||
| Кабель заземления | 1 | ||
АО «ЛЛС» поставляет весь спектр продукции Thorlabs на территории Российской Федерации и стран Таможенного Союза, и предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку.
|
Дисциплина
|
Оптическая микроскопия |
|
Количество лабораторных работ
|
не специфицируется |
|
Темы лабораторных
|
настройка атомно-силового микроскопа; теоретическая часть и эксперименты с атомами; знакомство с высокоточным позиционированием; изучение принципов и методов сканирования |
|
Уровень сложности
|
продвинутый |
|
Длина волны лазера
|
635 нм |
|
Площадь сканирования
|
0.05 мкм x 0.05 мкм (Min), 20 мкм x 20 мкм (Max) |
|
Пиксели на линию
|
50, 100, 250, или 500 |
|
Скорость сканирования
|
1 пиксель/с (Min), 200 пикселей/с (Max) |
|
Время на получение изображения
|
4 мин (100 x 100 пикселей), 11 мин (250 x 250 пикселей), 25 мин (500 x 500 пикселей) |
|
Разрешение
|
10 нм (тип.) |
|
Характеристики и режимы
|
|
|
AFM кончики
|
Рекомендуется: кантилевер с алюминиевым покрытием (10 шт. от BudgetSensors включены в комплект), Стандартный кантилевер также можно использовать |
|
AFM режимы
|
Постоянная сила, постоянная высота, боковая сила, кривые расстояния-силы |
|
Система обратной связи
|
Пьезотранслятор XY с обратной связью и тензодатчиком KSG101 |
|
Выходная мощность лазера
|
0.01 - 2.5 мВт |
|
Операционная система
|
Windows® XP, Service Pack 3 (32-Bit), 7, 8, или 10 (32-Bit или 64-Bit), Windows® Installer 3.1 или выше |
|
Дополнительные программы
|
Microsoft .NET Framework 4.0 |
|
USB порты
|
3 шт. USB 2.0 |
Нужна консультация?
Бесплатная консультация инженера