- 0.2 - 15 нм
- 0.2 - 25 нм
- 10 Вт
- 0,01 Вт
Эксклюзивный дистрибьютор QUANTIFI PHOTONICS (Coherent Solutions) в РФ и странах Таможенного Союза АО «ЛЛС» предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции QUANTIFI PHOTONICS (Coherent Solutions), полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
IQFROG измеряет интенсивность и фазу импульса в спектральной и временной областях, что дает полную его характеристику. С помощью спектрометра высокого разрешения он измеряет чирпированные импульсы шириной до 50 пс. IQFROG 1.0 идеально подходит для затравочных лазерных импульсов, усиливающих чирпированные импульсы.
Ключевые особенности:
- Диапазон длин волн входного импульса от 1000 до 1100 нм
- Измерение интенсивности и фазы импульсов длительностью от 300 фс до 50 пс
- Автокорреляционное измерение до 50 пс
АО «ЛЛС» является дистрибьютором компании QUANTIFI PHOTONICS (Coherent Solutions) на территории Российской Федерации и стран Таможенного Союза, и предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
Тип кристалла
|
BBO; KDP |
Входной импульс (временный FWHM)
|
0,3 - 7,5 пс |
Временное разрешение
|
15 фс |
Диапазон рабочих длин волн
|
1000 - 1100 нм |
Диапазон временного сканирования
|
200 пс |
Входной импульс (спектральный FWHM)
|
0,2 - 15 нм/ 0,2 - 25 нм. |
Спектральное разрешение
|
150 пм |
Насыщенность (входная пиковая мощность)
|
0,5 Вт /10 Вт |
Чувствительность мощности
|
0,002 Вт / 0,01 Вт |
Тип входного разъема
|
FC / APC или FC / PC |
Интерфейс
|
USB 2.0 |
Требования операционной системы
|
Windows 7, 8 или 10 (32 или 64 бит) |
Питание
|
~ 100 - 240 В; 50/60 Гц; 500 Вт |
Размеры
|
440 х 450 х 128 мм / 17,32 х 17,72 х 5,04 дюйма |
Вес
|
14 кг/ 30,9 фунтов |
Диапазон рабочих температур
|
от 5 ° C до 45 ° C / от 41 ° F до 113 ° F |
Диапазон температур хранения
|
от -40 ° C до 70 ° C / от -40 ° F до 158 ° F |
Применение:
- Тестирование волоконного лазера на эрбии
- Характеристика коротких и сверхкоротких импульсов
- Характеристика высокоскоростной линии связи
- Оптимизация компенсации дисперсии
- Оптоэлектронная характеристика компонентов
- Солитонная характеристика
- Нелинейная характеристика оптических свойств