Цена по запросу
Цена по запросу
В корзину
Характеристики
Поддерживаемые пластины
—
0–12" (толщина до 2.0 мм)
Разрешение по осям XYZ
—
0.1 мкм
Точность позиционирования по осям XYZ
—
≤±2 мкм
Точность позиционирования по осям XYZ
—
≤±1 мкм
Скорость перемещения по оси XY
—
≤50 мм/с
Скорость перемещения по оси XY
—
≤10 мм/с
Система обратной связи
—
Датчик с шагом 50 нм
Ход θZ (угол)
—
±10°
Разрешение по оси θZ
—
0.00018°
Точность позиционирования оси θZ
—
0.005°
Все характеристики
Пусконаладка и обучение персонала
Доступен лизинг, кредит, рассрочка
Подберем оборудование под ваши задачи
Гарантийное и постгарантийное обслуживание без привлечения производителя
Бесплатная доставка
Официальный дистрибьютор Form.AI в РФ и странах Таможенного Союза АО «ЛЛС» предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции Form.AI, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
Тестирование полупроводниковых пластин (до 12"), оптоэлектронных устройств и интегральных схем с автоматическим выравниванием, высокой точностью и визуализацией процесса.
Ключевые особенности:- Сенсорное управление, автоматическое сканирование (≤15 сек).
- Трехосевое перемещение (X/Y/Z) с компенсацией плоскостности.
- Сегментированное перемещение по Z-оси для защиты пластин от повреждений.
- Температурный диапазон: от -60 до +300°C (точность ±0.1°C/час).
- Микроскопы (до 4000x) и CCD-камеры (5 Мп, 60 fps).
- Опции: экранирующий бокс, антивибрационный стол, ВЧ/коаксиальные модули.
Документы
4 FA-AT3C
1,1 мб
|
Поддерживаемые пластины
|
0–12" (толщина до 2.0 мм) |
|
Разрешение по осям XYZ
|
0.1 мкм |
|
Точность позиционирования по осям XYZ
|
≤±2 мкм |
|
Точность позиционирования по осям XYZ
|
≤±1 мкм |
|
Скорость перемещения по оси XY
|
≤50 мм/с |
|
Скорость перемещения по оси XY
|
≤10 мм/с |
|
Система обратной связи
|
Датчик с шагом 50 нм |
|
Ход θZ (угол)
|
±10° |
|
Разрешение по оси θZ
|
0.00018° |
|
Точность позиционирования оси θZ
|
0.005° |
|
Скорость позиционирования по оси θZ
|
≤10°/с |
|
Диапазон температур
|
От -60 да +300°C |
|
Разрешение термоконтроля
|
0.01°C |
|
Точность термоконтроля
|
±0.1°C/час |
|
Система охлаждения
|
Компрессорное |
|
Материал платформы для игл
|
Серебряное покрытие |
|
Система отображения (увеличение)
|
15x–100x / 60x–420x / 20x–4000x |
|
Ход микроскопа (XYZ)
|
50×50×100 мм (точность 1 мкм) |
|
Камера CCD
|
2.0/5.0 Мп, 60 кадр/с |
