Для метрологии полупроводниковых приборов
- 620 кг
- -
- 12 мм
- метрическое
- 3000 x 900 x 300 мм
Официальный дистрибьютор DAEIL SYSTEMS в РФ и странах Таможенного Союза АО «ЛЛС» предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции DAEIL SYSTEMS, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
Оптические столы исследовательского класса предлагают самый высокий уровень широкополосного демпфирования, который эффективно минимизирует относительное смещение в широком диапазоне частот; поэтому пользователи могут использовать данные оптические столы для самых сложных задач. Оптические столы исследовательского класса обладают теми же характеристиками, что и оптические столы научного класса, но с более высоким уровнем структурного демпфирования, увеличенным модулем упругого отбора и улучшенной жесткостью.
Ключевые особенности:
- Стальная сотовая структура
- Малый размер сотовых ячеек
- Отдельные герметичные монтажные отверстия
- Обработанная и чистая поверхность
DVIO-B-2412M-300t-R.G.
2412 - габариты (Ш х Д)
M - монтажное отверстие: M - метрическое, E - английское, N - нет отверстия
300t - толщина плиты: 200t, 300t, 400t
R.G. - исследовательский класс
Габариты
|
2000 х 1200 х 300 мм Сердцевина |
Размер ячеек сердцевины
|
2,9 см² |
Модуль сдвига сердцевины
|
19339 кгс/см² (275 000 фунтов на кв. дюйм) |
Плоскостность поверхности
|
±0,1 мм на площади 600 x 600 мм |
Верхний слой
|
из ферромагнитной нержавеющей стали серии 430 толщиной 4,0 мм |
Нижняя поверхность
|
из стали толщиной 4,5 мм |
Боковые стенки
|
стальная плита толщиной 2,0 мм с высокодемпфированной композитной древесиной |
Монтажные отверстия
|
M6-1.0 |
Сетка монтажных отверстий
|
25 мм |
Границы монтажных отверстий
|
37,5 мм |
Демпфирование
|
широкополосное демпфирование |
Резонансная частота
|
288 Гц |
Соответствие
|
25n м/Н |
- CD-SEM
- Восстановление фотомаски
- Качественная проверка фотомасок
- Автоматизированный АСМ комплекс
- Выравниватель масок
- Рентгеновская метрология
- Рентгеновский контроль дефектов
- Система электронно-лучевой литографии
- Бесконтактная 3D-метрология поверхности
- Метрология толщины тонкого слоя