№:
1TS-140W
Подробности
Примечания—с системой 1TS-140
- с системой 1TS-140
- с системой 1TS-140B
- с системой 1TS-140B-AL
В корзину
Быстрый заказ
Характеристики
Изоляция
—
динамическая от 0,7 Гц до 1 кГц, полностью пассивная выше 1 кГц
Максимальная загрузка
—
140 кг
Рабочая поверхность
—
500x600 мм
Вес
—
23 кг
Класс электрической безопасности
—
1
Потребляемая мощность
—
10 Вт (макс.), 20 Вт во время регулировки нагрузки
Входное напряжение
—
90 – 120 В АС, 47 – 63 Гц / 200 – 240 В АС, 47 – 63 Гц
Класс защиты
—
Ip 20
Диапазон температур
—
5-40°С
Относительная влажность
—
10-90% (5-30°С), 10-60% (30-40°С)
Все характеристики
Пусконаладка и обучение персонала
Доступен лизинг, кредит, рассрочка
Подберем оборудование под ваши задачи
Гарантийное и постгарантийное обслуживание без привлечения производителя
Бесплатная доставка
Контрольная панель встроена в раму и позволяет работать комфортабельно. Эта система исключительно удобна в работе. Компенсация нагрузки производится автоматически при включении питания. Если нагрузка меняется, система автоматически перенастраивается и возвращается в режим изолирования. Конструкция рабочей станции оптимизирована для таких чувствительных приборов, как АФМ, лазерных сканирующих микроскопов, профилометров и пр.
АО «ЛЛС» предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку. Получить дополнительную информацию вы можете, обратившись в нашу компанию
Документы
|
Изоляция
|
динамическая от 0,7 Гц до 1 кГц, полностью пассивная выше 1 кГц |
|
Максимальная загрузка
|
140 кг |
|
Рабочая поверхность
|
500x600 мм |
|
Вес
|
23 кг |
|
Класс электрической безопасности
|
1 |
|
Потребляемая мощность
|
10 Вт (макс.), 20 Вт во время регулировки нагрузки |
|
Входное напряжение
|
90 – 120 В АС, 47 – 63 Гц / 200 – 240 В АС, 47 – 63 Гц |
|
Класс защиты
|
Ip 20 |
|
Диапазон температур
|
5-40°С |
|
Относительная влажность
|
10-90% (5-30°С), 10-60% (30-40°С) |
|
Максимальная высота над уровнем моря
|
2000 м |
|
Использование
|
для применения внутри помещений |
Области применения:
- Сканирующая пробная, электронная, оптическая ближнего поля/NSOM микроскопия
- Микроскопия лазерного контроля
- Интерферометрия
- Метрология/профилометрия
- Нано перемещения и нано литография
- Приложения для ультратонких пленок
- Аналитическая балансировка
- Биофизические измерения: исследования одиночных молекул, микро инфекция клеток, манипулирование клетками, IVF методы
С этим товаром покупают
Рекомендуем
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Нужна консультация?
Бесплатная консультация инженера
Задать вопрос