- 1310 нм
- 1550 нм
- 1625 нм
- Высокостабильный лазерный диодный источник с TE-охладителем и изолятором, для одномодового волокна с сердечником / оболочкой 9/125 мкм
- 1 мВт
- FC / PC
Официальный дистрибьютор OZ Optics в РФ и странах Таможенного Союза АО «ЛЛС» предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции OZ Optics, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
HIFOSS - это высокостабильный лазерный источник, работающий на различных длинах волн. Он имеет встроенный термоэлектрический охладитель (TE) для поддержания стабильной температуры лазерного диода и изолятор для уменьшения эффекта обратного отражения. Это существенно увеличивает стабильность источника. Производитель предлагает источники с поддержанием поляризации, одномодовым или многомодовым оптоволоконным выходом с широким диапазоном розеток или разъемов и рекомендует угловые разъемы для оптимальной стабильности.
OZ Optics использует волокна, сохраняющие поляризацию, на основе волоконной структуры PANDA, однако возможно создать устройства с использованием других волоконных структур из PM. В качестве опции к устройству может быть подключен оптический аттенюатор с блокировкой, управляемый цифровым или ручным способом, для изменения выходной мощности. Этот метод управления мощностью не влияет на спектральные свойства выходного сигнала лазерного диода.
Ключевые особенности:
- Широкий диапазон доступных длин волн: от 400 нм до 2050 нм
- Длительный срок службы, отличная стабильность: <0,1% при 1550 нм
- Доступны версии повышенной мощности
- Поддержание поляризации, возможность вывода одномодового или многомодового волокна
- Широкий выбор разъемов
- Регулировка выходной мощности с помощью блокирующего винта (опционно)
АО «ЛЛС» является официальным дистрибьютором компании OZ Optics на территории Российской Федерации и стран Таможенного Союза, и предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
Применение:
- Измерение вносимых потерь
- Сращивание и коннектизация
- Изготовление и тестирование компонентов