Измерение М2

Подбор параметров
Производитель
Все
Система для измерения М2 BeamSquared XC130
Система для измерения М2 BeamSquared XC130 Ophir
Диапазон длин волн
900 – 1700 нм
Тип датчика 
 InGaAs
Активная область
 9.6 x 7.6 мм
Элементы 
 320 x 256
Эффективный пиксель 
 30 x 30 мкм
Анализатор качества пучка M2
Система для измерения М2 BeamSquared SP920
Система для измерения М2 BeamSquared SP920 Ophir
Диапазон длин волн
266 - 1100 нм
Тип датчика 
 Кремниевая ПЗС
Активная область
 7.1 x 5.3 мм
Элементы 
 1624 x 1224
Эффективный пиксель 
 4.4 x 4.4 мкм
Анализатор качества пучка M2
Измерительная система M² NanoModeScan
Измерительная система M² NanoModeScan Ophir
Перемещение сканирующей головки
500 мм
Высота оптической оси
 140-170 мм
Объектив 
100 - 400 мм
Потребляемая мощность
 110 В AC , 60 Гц - стандарт; 220 В AC, 50 Гц - по запросу
Интерфейс
RS-232 или USB
Автоматическое решение для измерения M² со сканирующим профилометром